[MCU 내부 ADC 입력 구조]
핀 ──┬───[스위치]───┬───┬─> ADC 비교기
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│ [Csample]
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GND GND
- 스위치(S): 샘플링 순간에 닫힘
- Csample: 샘플링 커패시터 (수십 pF ~ 수백 pF)
- ADC 변환은 이 커패시터에 저장된 전압을 기준으로 수행
실제 ADC 입력은 샘플링구조로 되어있다.
이때 SW가 닫히면, ADC 내부의 Csample이 입력핀 전압으로 충전된다.
즉, ADC내부는 그순간 "내 전압을 DAC 전압으로 맞추려고 충전 전류를 흘린다" 는 행동을 한다.
그러므로 샘플링T를 기준으로 ADC가 일정 전압을 가지려한다.
이때 만약 DAC가 Low-Z로 병렬연결이 되어있다면, 문제가 발생한다.
DAC는 전압을 일정하게 유지하려는 저임피던스 전압원이다.
-> ADC가 샘플링을 시작하면 일시적인 전류가 DAC -> ADC 방향으로 흘러간다.
=> 애초에 저 임피던스이기에 전류량이 크고, 그 큰 전류가 ADC방향으로 흘러가기에 전류 피크가 발생할 수 있다.
따라서 버퍼를 꺼, DAC에 High-Z를 설정하면 DAC의 전류를 낮추어 ADC 동작에 부하가 가지 않게 할 수 있다.
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